荧光寿命成像基本参数
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荧光寿命成像企业商机

荧光寿命成像显微术(FLIM)是一种利用荧光染料固有特性的成像技术。除了具有特有的发射光谱外,每个荧光分子还有特有的寿命,它反映了荧光基团在发射光子之前处于激发态的时间。除了标准的荧光强度测量外,寿命分析还可以提供其他信息。过去,寿命成像一直是一种缓慢、复杂的专业化技术。只有经验丰富的显微镜**或物理学家才会使用这种技术。荧光寿命成像提供了额外的信息,有助提高共聚焦成像的质量。它非常适合用于区分荧光发射光谱重叠的荧光探针,或消除不需要的背景荧光信号。时域和频域技术在各种荧光显微寿命成像平台中都有应用。深圳多色荧光寿命成像供货商

荧光寿命成像系统是一种用于化学领域的分析仪器,荧光寿命成像可以在体现荧光物质形貌信息之外,还能够灵敏地反应荧光基团生化特性以及周围微环境的变化情况。将荧光寿命成像与共聚焦成像技术结合起来,实现人体三维荧光寿命成像,进一步实现人体三维功能成像奠定基础,有潜力应用于瘤识别,病变诊断等领域。荧光寿命是荧光基团在通过发射荧光光子返回基态之前在其激发态下保持平均多长时间的量度。不同荧光基团激发态停时间不同,大多数生物荧光素的荧光寿命时间在 0.2 - 20 ns。荧光寿命检测经典方法为点对点的时间相关单光子计数(TCSPC),但由于过去检测硬件的局限和复杂的使用而没有被普遍地应用于科学研究。随着技术的发展,在显微镜视野内进行超快速全像素荧光寿命信号采集的荧光寿命成像成为可能。北京多色荧光寿命成像要多少钱在种类繁多的显微技术中,荧光寿命显微成像技术被普遍地应用于生物学研究及临床诊断等领域。

荧光寿命是荧光分子在激发态停留的时间,这个时间可以反映荧光分子的内在属性和所处的微环境,是一个很有用的工具。以往,荧光寿命的测量和计算是件非常复杂和耗时的工作,只有少数专业的科学家关注和使用该工具。传统的多色成像实验根据光谱差异来设计,会有串色等限制,而且需要多次采集图像,会造成样品的光损伤。通过荧光寿命来进行成像,只需要拍摄一次就完成图像采集,不但减少了成像时间,而且降低了激光对样品的损伤。荧光寿命成像使用简单,方便快捷,不需要进行参数调节。

与荧光光谱一样,荧光寿命也是荧光物质的一种内在特有性质,不受荧光物质浓度、激发光强度等因素的影响。荧光寿命成像能在不受荧光强度影响因素影响的条件下,在纳米分辨率水平对蛋白互作进行研究,或者通过 FRET 探针研究分子环境变化,更重要的是其测量数据准确性高、易重复。通过荧光寿命成像还可以对样本所处的微环境进行检测、对样品组份进行分离等等。在传统的荧光强度和荧光光谱两个维度的基础上,又增加了荧光寿命这一新的成像维度,大幅度拓展了该系统的应用范围。荧光寿命是荧光基团在通过发射荧光光子返回基态之前在其激发态下保持平均多长时间的量度。

荧光寿命成像 (FLIM)通过建立检测到的荧光事件的直方图来确定寿命。可显示单指数或多指数荧光衰减。数值曲线拟合表示荧光寿命和振幅(即检测到的光子数)。由于FRET减少了供体寿命,因此如果无FRET的供体寿命已知,就可以量化FRET发生的程度。该供体寿命τ作为分析FRET样品的一定参考。因此,FLIM-FRET为内部参照—这一特点减少了基于强度测量FRET时的很多缺点。由于其荧光寿命是染料的固有特性,因此对其他不利影响(如光漂白、图像明暗处理、不同浓度或表达水平)具有普遍的不变性。使用基于强度的FRET测量的主要限制是所有可观察的供体分子都经历FRET的基本假设。通常情况并非如此。供体分子这种变化的“非结合”组分给测量的FRET效率带来了相当大的不确定性,使得无法在实验之间进行比较。荧光寿命成像克服了这一缺点。荧光寿命成像通常用于研究生物分子间相互作用、细胞中的信号事件或区分光谱重叠的荧光团。深圳多色荧光寿命成像供货商

荧光寿命取决于荧光分子所处的微环境,通过对样品荧光寿命的测量和成像可以定量获取样品的功能信息。深圳多色荧光寿命成像供货商

在使用TCSPC测量荧光寿命的过程中,需要调节样品的荧光强度,确保每次激发后较多只有一个荧光光子到达终止光电倍增管。TCSPC方法的突出优点是灵敏度高、测量结果准确、系统误差小。采用该技术对样品进行荧光寿命成像时,必须逐点测量样品的荧光寿命,而每一点的测量时间又比较长,因此,通常认为该技术不太适合荧光寿命测量。不过,近年来,随着TCSPC技术和固体超快激光技术的发展,TCSPC技术已具备快速测量荧光寿命的条件。通过与激光共聚焦显微镜的结合,可以对样品进行荧光寿命成像的测量。深圳多色荧光寿命成像供货商

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