荧光寿命成像可以干什么?荧光寿命成像图像中每一个像素点在phasor图上都有一个对应的点。因此我们可以获取每个像素点的寿命信息,也可以获知每一寿命所对应的图像区域。荧光寿命成像可以提供荧光强度(光子数)和光子寿命的空间分布,具有200 nm的空间分辨率和皮秒量级的时间分辨率。通过双光子激发(结合飞秒...
典型的荧光寿命成像包括从感兴趣区域(ROI)的共焦图像中提取1-,2-或3-衰减时间。限制荧光团的衰减速率可能是任意的,而且很复杂,因为在细胞环境中存在几种衰减速率。对于相量图,关于选择哪种衰减模型以及评估拟合优度的挑战性决定已成为过去。在相量图中,所有原始FLIM数据在向量空间中均表示为相位和幅度。图像中的每个像素都转换为相量图中的一个点。单独于其在图像中的位置,具有相似衰减特征的像素在相量图中形成群集。可以在此阵列中选择不同的相量簇,并在标注中反向注释对应的像素。荧光寿命取决于荧光分子所处的微环境,通过对样品荧光寿命的测量和成像可以定量获取样品的功能信息。广州红外荧光寿命成像制造
在基于时间相关单光子计数的荧光寿命成像实验中,通过选用超快激光器可以优化脉冲持续时间,单光子探测器和时间数字转换器的时间抖动则成为制约时间分辨率的关键参数。荧光寿命成像可进行高质量的多色成像实验或实现STED、PALM/STORM等超分辨率荧光显微成像。目前TCSPC是主要应用的荧光寿命测定技术。荧光寿命通常在ps~us量级,在如此短的时间量级上进行测量,它是较为成熟准确的测试手段。TCSPC的工作原理是使用一个同步信号源驱动激光器,出射光脉冲照射样品池,在利用光子探测装置(多为PMT)对荧光信号进行探测,每一个光子计数信号在FT1010中都会落入一个对应的时间窗口,经过一定时间的统计叠加后即得到荧光寿命曲线。几十万次重复以后,不同的时间通道累积下来的光子数目不同。广州红外荧光寿命成像制造荧光寿命成像具有200 nm的空间分辨率和皮秒量级的时间分辨率。
荧光显微技术具有无损、非接触、高特异性、高灵敏、高体友好以及能够提供功能信息等突出优点,一直是生命科学,尤其是细胞生物学研究的重要工具。近年来,随着生命科学的发展,对荧光显微技术也提出了越来越高的要求,激光技术、荧光探针标记技术、新型荧光探测技术和成像手段的不断发展,极大地促进了荧光显微技术的发展,成为推动生命科学发展的重要动力。此外,荧光显微技术也在成像的对比机制方面获得了很大的进展。超分辨(SR)成像技术的发展,也为荧光寿命成像(FLIM)的新发展提供了巨大的机遇。
荧光寿命成像 (FLIM)通过建立检测到的荧光事件的直方图来确定寿命。可显示单指数或多指数荧光衰减。数值曲线拟合表示荧光寿命和振幅(即检测到的光子数)。由于FRET减少了供体寿命,因此如果无FRET的供体寿命已知,就可以量化FRET发生的程度。该供体寿命τ作为分析FRET样品的一定参考。因此,FLIM-FRET为内部参照—这一特点减少了基于强度测量FRET时的很多缺点。由于其荧光寿命是染料的固有特性,因此对其他不利影响(如光漂白、图像明暗处理、不同浓度或表达水平)具有普遍的不变性。使用基于强度的FRET测量的主要限制是所有可观察的供体分子都经历FRET的基本假设。通常情况并非如此。供体分子这种变化的“非结合”组分给测量的FRET效率带来了相当大的不确定性,使得无法在实验之间进行比较。荧光寿命成像克服了这一缺点。荧光寿命成像基于荧光团的荧光寿命取决于其分子环境而并非浓度的事实。
影响荧光寿命成像测量的几种因素:1.温度影响:一般说来,荧光随温度升高而强度减弱,温度升高1℃,荧光强度下降1~10%不等。测定时,温度必须保持恒定。 2.PH值影响:PH 值影响物质的荧光,应选择较佳PH制备样品。 3.光分解对荧光测定的影响: 荧光物质吸收紫外可见光后,发生光化学反应,导致荧光强度下降。因此,荧光分析要采用高灵敏度的检测器,而不是用增强光源来提高灵敏度。测定时,用较窄的激发光部分的狭缝,以减弱激发光。同时,用较宽的发射狭缝引导荧光。荧光分析应尽量在暗环境中进行。荧光寿命成像的发展很好地弥补了基于强度成像的问题,对生物医学检测有着重要的意义。湖北化学荧光寿命成像哪家实惠
荧光寿命成像能够灵敏地反应荧光基团生化特性以及周围微环境的变化情况。广州红外荧光寿命成像制造
荧光寿命成像中的荧光寿命及其含义:假定一个无限窄的脉冲光(δ函数)激发n0个荧光分子到其激发态,处于激发态的分子将通过辐射或非辐射跃迁返回基态。假定两种衰减跃迁速率分别为Γ和knr,则激发态衰减速率可表示为:其中n(t)表示时间t时激发态分子的数目,由此可得到激发态物种的单指数衰减方程。荧光寿命定义为衰减总速率的倒数:荧光强度正比于衰减的激发态分子数,因此可将上式改写为:其中I0是时间为零时的荧光强度,τ为荧光寿命。也就是说荧光强度衰减到初始强度的1/e时所需要的时间就是该荧光物种在测定条件下的荧光寿命。实际上用荧光强度的对数对时间作图,直线斜率即为荧光寿命倒数的负值。荧光寿命也可以理解为荧光物种在激发态的统计平均停留时间。事实上当荧光物质被激发后有些激发态分子立即返回基态,有的甚至可以延迟到5倍于荧光寿命时才返回基态,这样就形成了实验测定的荧光强度衰减曲线。广州红外荧光寿命成像制造
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