荧光寿命成像基本参数
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荧光寿命成像企业商机

荧光寿命成像 (FLIM)通过建立检测到的荧光事件的直方图来确定寿命。可显示单指数或多指数荧光衰减。数值曲线拟合表示荧光寿命和振幅(即检测到的光子数)。由于FRET减少了供体寿命,因此如果无FRET的供体寿命已知,就可以量化FRET发生的程度。该供体寿命τ作为分析FRET样品的一定参考。因此,FLIM-FRET为内部参照—这一特点减少了基于强度测量FRET时的很多缺点。由于其荧光寿命是染料的固有特性,因此对其他不利影响(如光漂白、图像明暗处理、不同浓度或表达水平)具有普遍的不变性。使用基于强度的FRET测量的主要限制是所有可观察的供体分子都经历FRET的基本假设。通常情况并非如此。供体分子这种变化的“非结合”组分给测量的FRET效率带来了相当大的不确定性,使得无法在实验之间进行比较。荧光寿命成像克服了这一缺点。荧光寿命成像系统是一种用于化学领域的分析仪器。化学荧光寿命成像价格表

荧光寿命成像技术有两种:时间域和频率域。(1)时域FLIM:需要脉冲光源,所以一般在双光子的系统上比较常见FLIM(荧光寿命成像Fluorescence Life-time imaging Microcopy简称FLIM),理由一是激光是脉冲的,二是买双光子的老师一般也搭配一个FLIM。(2)频域FLIM:需要一个相位调制的光源,有用LED调制的。荧光寿命成像FLIM的应用:1)细胞体自身荧光寿命分析;2)自身荧光相对荧光标记的有效区分;3)具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分;4)活细胞内水介质的PH值测量;5)局部氧气浓度测量;6)活细胞内钙浓度测量;7)时间分辨Forster共振能量转移(FRET):纳米级尺度上的远程测量,环境敏感的FRET探针定量测量。化学荧光寿命成像价格表荧光寿命成像技术是一种在显微尺度下展现荧光寿命空间分布的技术。

荧光寿命显微成像(Fluorescence lifetime imaging microscopy,FLIM)是荧光寿命测量和荧光显微技术的结合,荧光寿命显微成像具有高特异性、高灵敏度、可定量测量微环境变化和分子间相互作用、不受探针浓度、激发光强度和光漂白影响等优点。在过去的十年中,光学技术硬件和软件、材料科学和生物医学的迅速发展,共同促进了FLIM技术及其应用的巨大进步。荧光寿命成像(FLIM)对细胞信号传导及调控,蛋白间的相互作用等生物研究发挥着很大作用。

荧光寿命成像:作为荧光成像中除光谱和强度之外的新维度,当前,荧光寿命成像主要应用领域包括:用于样品分离,如利用不同染料荧光寿命的差异将不同组织、正常与病变细胞等有效分离。荧光团在光谱上非常相似(max 580 vs 573)无法分离,但它们在荧光寿命上差异明显。作为生物传感器,如评价药物/理化条件对细胞的影响、Ca+震荡等。充分拓展了寿光命成像的使用范围,实现可相互验证的多维度样品成像。实现真正的生物动力学分析和功能成像。荧光寿命成像在生物医学领域有广阔的应用前景。

显微荧光寿命成像应用:材料科学领域:宽禁带半导体等体系的少子寿命mapping 测量;量子点等用作荧光寿命成像显微镜探针;钙钛矿电池/LED 薄膜的组分分析、缺陷检测;铜铟镓硒CIGS,铜锌锡硫CZTS 薄膜太阳能电池的组分、缺陷检测;镧系上转换纳米颗粒;GaAs 或GaAsP 量子阱的载流子扩散研究;生命科学领域:细胞体自身荧光寿命分析;自身荧光相对荧光标记的有效区分;活细胞内水介质的PH 值测量;局部氧气浓度测量;具有相同频谱性质的不同荧光标记的区分;活细胞内钙浓度测量;时间分辨共振能量转移(FRET):纳米级尺度上的远差测量,环境敏感的FRET 探针定量测量;代谢成像:NAD(P)H 和FAD 胞质体的荧光寿命成像。荧光寿命成像可以提供有关电信号变化、离子和氧含量、温度、细胞或其环境中的 pH 值的定量信息。化学荧光寿命成像价格表

在种类繁多的显微技术中,荧光寿命显微成像技术被普遍地应用于生物学研究及临床诊断等领域。化学荧光寿命成像价格表

荧光寿命(FLT)是荧光团在发射光子并返回基态之前花费在激发态的时间。根据荧光基团的不同,FLT可以从皮秒到数百纳秒不等。荧光团群的寿命是指经荧光或非辐射过程的能量损失后,激发态分子数量以指数方式衰减到原始数量的N / e(36.8%)的时间。荧光寿命是荧光团的固有属性。FLT不依赖于荧光团浓度、样品吸收、样品厚度、测量方法、荧光强度、光漂白和/或激发强度。它受外部因素影响,如温度、极性和荧光淬灭剂的存在。荧光寿命对依赖于荧光团结构的内部因素敏感。化学荧光寿命成像价格表

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