荧光寿命成像基本参数
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荧光寿命成像企业商机

荧光寿命的测量和荧光寿命成像主要有时间相关单光子计数法(time correlated single photon counting, TCSPC)、门控探测法(time-gated detection)、条纹相机测量法(streak-FLIM)、频闪技术等四种常见的方法。TCSPC是目前测量荧光寿命的主要技术,同轴脉冲光源发出的脉冲光引起起始光电倍增管产生电信号,该信号通过恒分信号甄别器1启动时幅转换器(time-amplitude converter,TAC),时幅转换器产生一个随时间线性增长的电压信号。此外,同轴脉冲光源发出的脉冲光通过激发单色器后到达样品池,样品产生的荧光信号再经过发射单色器到达终止光电倍增管,由此产生的电信号经由恒分信号甄别器2到达时幅转换器并使其停止工作。不同荧光基团激发态停时间不同,大多数生物荧光素的荧光寿命时间在 0.2 - 20 ns。广州化学荧光寿命成像

荧光寿命成像显微术(FLIM)是一种利用荧光染料固有特性的成像技术。除了具有特有的发射光谱外,每个荧光分子还有特有的寿命,它反映了荧光基团在发射光子之前处于激发态的时间。除了标准的荧光强度测量外,寿命分析还可以提供其他信息。过去,寿命成像一直是一种缓慢、复杂的专业化技术。只有经验丰富的显微镜**或物理学家才会使用这种技术。荧光寿命成像提供了额外的信息,有助提高共聚焦成像的质量。它非常适合用于区分荧光发射光谱重叠的荧光探针,或消除不需要的背景荧光信号。浙江荧光寿命成像哪里有卖荧光寿命成像是一种重要的荧光显微镜技术。

荧光寿命是荧光团在发射荧光光子返回基态之前保持其激发态的平均时间长度。这取决于荧光团的分子组成和纳米环境。荧光寿命成像将寿命测量与成像相结合:对每个图像像素以测得的荧光寿命进行颜色编码,产生额外的图像反差。因此,荧光寿命成像可以提供关于荧光分子空间分布的信息和有关其生化状态或纳米环境的信息。有很多技术可以在显微镜环境中检测荧光寿命。常见的的是基于供体(受体光漂白,FRET AB)或受体(敏化发射,FRET SE)荧光强度的技术。

荧光寿命取决于荧光分子所处的微环境,通过对样品荧光寿命的测量和成像可以定量获取样品的功能信息。荧光分子受激发后发光,荧光寿命量化了发光的衰减率。该特征时间不但取决于特定的荧光团,还取决于其环境,分子相互作用影响弛豫过程并改变荧光团的寿命。荧光寿命是微环境的相对参数,不受环境吸收、样本浓度等因素影响,因此能够对生物组织环境中的 p H 值水平、离子浓度、氧分子浓度等微环境状态进行高精度检测。荧光寿命显微成像(FLIM),可以定位不同的分子及浓度分布,在生物,材料,半导体领域具有重要的应用价值。荧光寿命成像有潜力应用于瘤识别,病变诊断等领域。

荧光寿命成像技术用于表征DNA压缩和基因活性。研究团队发展了荧光寿命成像技术(FLIM),表征DNA压缩的动态过程,克服了以往方法的局限性。研究团队提出了两种精确测量DNA压缩程度的FLIM分析方法。第一种方法基于加入DNA的荧光探针的荧光寿命与其局部微环境折射率之间的逆二次方关系,荧光探针的寿命随DNA压缩密度而变化,从而可表征DNA压缩程度。第二种方法是将荧光标记的核苷酸整合到DNA链中,通过一种叫做荧光共振能量转移(FRET)的技术获得其荧光寿命值的变化,从而反映出DNA的压缩程度的动态变化过程。细胞培养结果证明,两种FLIM分析方法都可以成功表征DNA压缩的动态过程。荧光寿命检测经典方法为点对点的时间相关单光子计数(TCSPC)。上海开放式荧光寿命成像

荧光寿命成像通常用于研究生物分子间相互作用、细胞中的信号事件或区分光谱重叠的荧光团。广州化学荧光寿命成像

荧光寿命成像FLIM所面临的挑战:在数据处理上,由于曲线拟合迭代过程的需求,计算成本较其他成像方案更高。在成像原理上,荧光寿命受多种外界因素影响,这些因素包括分子相互作用、pH值、温度和粘滞阻力等,很难对这些参数控制变量,使得测量荧光寿命存在交叉干扰问题。此外,与普通光学显微技术类似,介质光散射影响成像信噪比及空间分辨率,成像深度受到限制。FLIM已经在系统装置、荧光探针和数据处理算法等方面得到了较快的发展,这也使得荧光寿命成像FLIM在对细胞微环境成像和生物代谢监测发挥出不可替代的作用。广州化学荧光寿命成像

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