手动探针台的使用方式:1.将样品载入真空卡盘,开启真空阀门控制开关,使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。2.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台,在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。3.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。4.显微镜切换为高倍率物镜,在大倍率下找到待测点,...
探针台是一种辅助执行机构,测试人员把需要量测的器件放到探针台载物台(chuck)上,在显微镜配合下,X-Y移动器件,找到需要探测的位置。接下来测试人员通过旋转探针座上的X-Y-Z的三向旋钮,控制前部探针(射频或直流探针),精细扎到被测点,从而使其讯号线与外部测试机导通,通过测试机测试人员可以得到所需要的电性能参数。探针台工作环境,探针台应放在坚固稳定的台面上,如地基有震动的情况,需要配置主动防震装置,避免在高温、潮湿、激烈震动、阳光直接照射和灰尘较多的环境下使用。使用比较好温度范围为5℃~40℃,比较好湿度是40%到85%,空气中之湿度若低于30%以下,可靠湿度控制器予以控制,使维持50%~60%之范围。使用时门窗尽可能关闭,使室内达到除湿效果 。使用电源:220V,50Hz定制探针台具有优良的机械系统,稳定的结构,符合人体工程学,以及多项升级功能。武汉低阻测试探针台
H系列探针台是一款配置综合型手动测试探针台,该系列探针台设备配置丰富,基本可以满足一般实验室的全部测试要求。其样品台可以360度快速移动,便于快速定位样品位置,提高测试效率。并且具备三段式针座平台,在不失焦的情况下可以使样品和探针做到快速分离。此设备一般适用于大型实验室或者半导体工厂。产品优势:卡盘可360度快速移动,便于快速定位样品位置,提高测试效率大手柄微分头驱动,省时,省力,省心三段式可升降探针座平台,在不失焦的情况下可以使样品和探针做到快速分离江苏双面点针探针台给大家普及一下探针台是干什么用的。
探针台的分类探针台可以按照使用类型与功能来划分,也可以按照操作方式来划分成:手动探针台、半自动探针台、全自动探针台。手动探针台系统顾名思义是手动控制的,这意味着晶圆载物台、显微镜以及定位器/操纵器都是由使用者手动移动的。因此一般是在没有很多待测器件需要测量或数据需要收集的情况下使用手动探针台。该类探针台的优点之一是只需要**少的培训,易于配置环境和转换测试环境,并且不需要涉及额外培训和设置时间的电子设备、PC或软件。由于其灵活和可变性高的特点,非常适合研发人员使用。全自动探针台相比上述两种添加了晶圆材料处理搬运单元(MHU)和模式识别(自动对准)。负责晶圆的输送与定位,使晶圆上的晶粒依次与探针接触并逐个测试。可以24小时连续工作,通常用于芯片量产或有一些特殊要求如处理薄晶圆、封装基板等。全自动探针台价格也是远比手动/半自动探针台要昂贵。
手动探针台是广泛应用于半导体行业的综合经济型测试仪器,主要用于半导体芯片的电参数检测。手动探针台是通过两根探针以及吸片盘够成的回路以及相应大型电参数测试仪对芯片中的集成电路进行检测的。应用范围:手动探针台主要用于对生产及科研中的集成电路、三极管、二极管、可控硅及敏感元件管芯的电压、电流、电阻等参数进行手动测试。极低温测试:因为晶圆在低温大气环境测试时,空气中的水汽会凝结在晶圆上,会导致漏电过大或者探针无法接触电极而使测试失败。避免这些需要把真空腔内的水汽在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。高温无氧化测试:当晶圆加热至300℃,400℃,500℃甚至更高温度时,氧化现象会越来越明显,并且温度越高氧化越严重。过度氧化会导致晶圆电性误差,物理和机械形变。避免这些需要把真空腔内的氧气在测试前用泵抽走,并且保持整个测试过程泵的运转。晶圆测试过程中温度在低温和高温中变换,因为热胀冷缩现象,定位好的探针与器件电极间会有相对位移,这时需要针座的重新定位,针座位于腔体外部。我们也可以选择使用操作杆控制的自动化针座来调整探针的位置。了解探针台的使用步骤。
可提供单维磁场,多维磁场探针台,磁场强度,精度和间隙均可客制化l高刚性结构,所有零配件均采用无磁化材料可加载高低温,可同时进行DC和RF测试,可配合市场主流扩频模块进行超高频测试;大行程高精度探针座,X-Y-Z-Theta四轴控制l显微镜可以在2英寸*2英寸*2英寸范围内移动,扩大了显微镜视场;兼容直流与高频信号;可以定制,可升级性强l比较大可以测试12英寸样品,探针台chuck具备升降功能,便于样品和探针的快速分离。可配合等离子发生器使用,可以给样品提供超高温和等离子气体。探针台由哪些部分组成?双面点针探针台维保
芯片的电参数测试用手动探针台。武汉低阻测试探针台
提到探针台,大家应该会一头雾水,不知道探针台是干什么用的,下面就让小编来给大家普及一下探针台是干什么用的,供大家了解,希望能对大家有所帮助。探针台可以将电探针、光学探针或射频探针放置在硅晶片上,从而可以与测试仪器、半导体测试系统配合来测试芯片、半导体器件。这些测试可以很简单,例如连续性或隔离检查。也可以很复杂,包括微电路的完整功能测试。可以在将晶圆锯成单个管芯之前或之后进行测试。在晶圆级别的测试允许制造商在生产过程中多次测试芯片器件,这可以提供有关哪些工艺步骤将缺陷引入产品的信息。它还使制造商能够在封装之前测试管芯,这在封装成本相对于器件成本高的应用中很重要。探针台还可以用于研发、产品开发和故障分析应用。探针台可以固定晶圆或芯片,并准确定位待测物。手动探针台的使用者将探针臂和探针安装到操纵器中,并使用显微镜将探针顶端放置到待测物上的正确位置。一旦所有探针顶端都被设置在正确的位置,就可以对待测物进行测试。武汉低阻测试探针台
上海波铭科学仪器有限公司是我国拉曼光谱仪,电动位移台,激光器,光电探测器专业化较早的有限责任公司(自然)之一,波铭科仪是我国仪器仪表技术的研究和标准制定的重要参与者和贡献者。公司承担并建设完成仪器仪表多项重点项目,取得了明显的社会和经济效益。多年来,已经为我国仪器仪表行业生产、经济等的发展做出了重要贡献。
手动探针台的使用方式:1.将样品载入真空卡盘,开启真空阀门控制开关,使样品安全且牢固地吸附在卡盘上。2.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台,在显微镜低倍物镜聚焦下看清楚样品。3.使用卡盘X轴/Y轴控制旋钮移动卡盘平台将样品待测试点移动至显微镜下。4.显微镜切换为高倍率物镜,在大倍率下找到待测点,...
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