金相学主要指借助光学(金相)显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支,既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征,亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒(亦包括可能存在的亚晶)、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷...
共聚焦显微镜是由显微镜光学系统、激光光源、扫描器及检测及处理系统4部分组成,采用相干性较好的激光作为光源,在传统光学显微镜基础上采用共轭聚焦原理和装置,并利用计算机对图象进行处理的一套观察、分析和输出系统。激光扫描束通过光栅针(zhen)孔形成点光源,经过分光镜反射至物镜,聚焦在在标本上并进行扫描。样品受到激发后,发出的荧光回到分光镜聚集到探测针(zhen)孔,之后经过光电倍增管转化为电信号传输到计算机上显示为清晰的焦平面图像。激发光通过光栅针(zhen)孔聚焦在样品上,荧光通过物镜聚焦在针(zhen)孔上,此过程中形成两次聚焦,故被称为共聚焦显微镜。
主要应用于:生物学领域、高分子化学领域、表面粗糙度领域。 显微镜使用注意事项;70XL显微镜大概价格多少
扫描透射电子显微镜 (STEM) 是什么?
扫描透射电子显微镜(Scanning Transmission Electron Microscopy, STEM)由透射电子显微镜(TEM)发展而来,指透射电子显微镜中有扫描附件者,尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式,其空间分辨率可达亚埃米级,可在纳米和原子尺度上对材料微结构与精细化学组分的表征与分析。在冶金、材料、环境科学、生物科学等领域具有巨大应用潜力。 变倍 显微镜供应商家激光扫描共聚焦显微镜的扫描成像技术。
典型的共焦显微镜装置是在被测对象焦平面的共轭面上放置两个小孔,其中一个放在光源前面,另一个放在探测器前面,如图1所示。由图可知,当被测样品处于准焦平面时,探测端收集到的光强比较大;当被测样品处于离焦位置时,探测端的光斑发生弥散,光强迅速减小。因此,只有焦平面上的点所发出的光才能透过出射针(zhen)孔,而焦平面以外的点所发出的光线在出射针(zhen)孔平面是离焦的,绝大部分无法通过中心的针(zhen)孔。因此,焦平面上的观察目标点呈现亮色,而非观察点则作为背景呈现黑色,反差增加,图像清晰。在成像过程中,两针(zhen)孔共焦,共焦点为被探测点,被探测点所在的平面为共焦平面。
显微镜的观察方法
明视场观察:垂直照射测量物表面,适用于金属、印刷电路板、浅孔的表面观察。
暗视场观察:通过对从工件发出的散射光进行观察,可完成在明视场下观察不到的划痕、尘埃、凹凸,以及胜任低反射工件的观察。
偏光观察:观察具有偏光特性的物质,适用于半导体材料、液晶、结晶、金属组织、矿物等表面观察。
微分干涉(DIC)观察:利用Nomarski棱镜将光线分为两束,形成明暗和对比度变化,可进行立体观察。适用于观察硅片的结晶缺陷、磁头研磨面的损伤检查、涂装面、金属组织、矿石表面等。 工业测量显微镜主要应用于电子行业。
光电流测试显微镜-探针台系统:本显微镜是在金相显微镜基础上导入另一路光源,用于辐照样品以测试样品在特定波长及能量下的电气特性等测试目的。本显微镜设计为双光路或3光路,其中一路为导入光通路,另一到两路为成像光路导入光为平行的激光或其它线性光源,波长范围200nm~20000nm,中间可加入多个波片过滤,起偏及偏振角度无级360度调节。光斑辐照直径有650nm红光指示。所有模块均可拉出设计,对导入光性质无影响。导入光光路可选择一个光时间开关,精确控制导入光的辐照时间,精度1ms,范围2ms~∞,在控制界面上可对各种参数进行详细设置。成像光路为同轴照明金相成像,其中一路为1倍成像,可选择第2路成像,为物镜的0.25~10倍率,通常在高低温测试系统里会用到,同一个物镜不切换,得到两个不同视野的成像。 光电流测试显微镜系统;共聚焦显微镜性价比
透射电镜主要应用于半导体、材料科学、生命科学等领域。70XL显微镜大概价格多少
显微镜对于不透明物体的照明和暗视场照明方法
对于不透明物体,采用从侧面或者从上方照明的方法。此时,标本是靠散射光或反射光成像的。侧面照明是把光源放在标本的斜上方,有的显微镜用物镜四周的小灯泡形成斜照明,上方照明方式使物镜兼作聚光镜
暗视场照明方法:暗视场照明适用于离散分布的颗粒标本的观测。在某种程度上,暗视场照明可以提高显微镜的分辨率。暗视场照明的原理是不让透过标本的光直接进入物镜,只让由颗粒散射的光线进入物镜。这样,使物镜形成的像面是一个暗背景上分布着亮颗粒的景象。由于衬度(对比)好,有利于颗粒的分辨。暗视场照明分为单向暗视场照明和双向暗视场照明。分为单向暗视场照明和双向暗视场照明。 70XL显微镜大概价格多少
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金相学主要指借助光学(金相)显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支,既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征,亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒(亦包括可能存在的亚晶)、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷...
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