定制显微镜分类

激光共焦扫描显微镜是点成像，因此要想获得物体的二维图像，需要借助于x和y方向的二维扫描。不同的显微镜采用不同的扫描方式：

(1)物体扫描。即物体本身按照一定的规律移动，而光束保持不变。

优点：光路稳定；缺点：需要大幅度的扫描工作台，因此扫描速度受到很大限制。

(2)利用反射式振镜构成光束扫描系统。即通过控制扫描振镜将聚焦光点有规律地反射到物体某一层面，完成二维扫描。其优点是精度较高，常用于高精度测量。扫描速度比物体扫描有所提高，但仍然不快 。

(3)使用声光偏转元件进行扫描，通过改变声波输出频率进而改变光波的传输方向来实现扫描。其突出优点是扫描速度非常快，由美国研制的利用声光偏转器产生实时视频图像的扫描系统，扫描一幅二维图像只需1/30s，几乎做到了实时输出。

(4)Nipkow盘扫描，其扫描过程是通过旋转Nipkow盘而保持其他元件不动完成的，可以一次成像，速度非常快。但是由于成像光束是轴外光，所以必须对透镜的轴外像差进行校正，并且光能利用率很低 显微镜的专业术语词义；定制显微镜分类

激光扫描共聚焦显微镜的另一个特点是它是一种扫描成像技术，传统的宽场照明技术是将整个样品都照亮，因此可以图像可以直接被肉眼或探测器捕捉，但是LSCM采用一束或多束聚焦光束穿过样品扫描成像，这样得到的图像被称为光学切片。现代共聚焦显微镜的一种实际的工作方式是激光发出的激发光通过二向色镜，通过一对振镜在样品x方向和y方向进行扫描，样品激发（或反射）的光通过针（zhen）孔进入PMT检测器被记录，记录下的扫描图像通过计算机重构出实际的样品图像。南昌显微镜供应商家显微镜的规范操作教程；

透射电子显微镜、扫描电子显微镜、扫描隧道显微镜和原子力显微镜是各个高科技领域经常运用的四种显微镜。英文名分别是Transmission Electron Microscope（TEM），Scanning Electron Mcroscope(SEM)、Scanning Tunneling Microscope（STM）和Atomic Force Microscope(AFM)。从名字中很容易知道四个显微镜的特点，其中TEM和SEM用的是电子来替代光，从而确定观测样品结构，而STM和AFM其实用的都是探针。所以可以认为亚显微级显微镜（这个名字主要是区别开光学显微镜，用来说明其分辨率远高于用可见光观测）可以分为两大类，即电子显微镜类别和探针显微镜类别。

探针应用的显微镜STM和AFM的原理其实就是利用探针与样品间的距离进行测绘得到的样子，也可以说是根据样品与探针间测量得到的距离，将图像画下来的样子。当然，具体原理还是有点不一样的。为什么会有两种“探针型”的显微镜，STM显微镜因为需要测定电流，因此必须要求所测样品需要具有导电性，而AFM显微镜因为只需要测定相互作用力，因此不需要考虑测定电流，所以相比STM显微镜可以测定更多类型样品。而AFM的缺点则是其分辨率比STM要低，主要原因也是测量时候的原理及目前技术上的问题。首先测定形变是利用激光，在形变后激光的方向会发生偏折，因此测定的其实是激光的信息从而绘制的图像。显微镜常见故障的排除；

扫描探针显微镜控制器通过扫描器在竖直舛由方向移动样品以使探针和样品之间的距离(或相互作用的物理量)稳定在某一固定值;同时在x-y水平平面移动样品，使探针按照扫描路径扫描样品表面。扫描探针显微镜在稳定探针与样品间距的情况下，检测系统检测探针与样品之间相互作用的相关物理量信号;在稳定相互作用物理量的情况下，则通过竖直方向礴由位移传感器检测探针与样品之问距离。图像系统则根据检测信号(或探针与样品间距)对样品表面进行成像等图像处理。显微镜不同的照明方式，观察成像也不同。体式显微镜加装

透射电子显微镜和扫描电子显微镜；定制显微镜分类

照明系统通常包括光源，聚光镜及其他辅助透镜、反射镜。其中，光源的亮度、发光面积、均匀程度决定了聚光照明系统可以采用的形式。照明系统可采用的光源有卤钨灯、金属卤化物灯、高压汞灯、发光二 极管 (LED)、 氙灯、电弧灯等。有些光源在其发光面内具有足够的亮度和均匀性 ,可以用于直接照明 ,但大多数情况下，光源后面需要加入由聚光镜等构成的照明光学系统来实现一定要求的光照分布，同时使光能量损失小，这两方面是对不同照明系统进行设计时需要解决的共同问题。照明光学系统注重的是能量的分配而不是信息的传递，所关心的问题并不是像平面上的成像质量如何，而是被照明面上的照度分布和大小。定制显微镜分类

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