金相学主要指借助光学(金相)显微镜和体视显微镜等对材料显微组织、低倍组织和断口组织等进行分析研究和表征的材料学科分支,既包含材料显微组织的成像及其定性、定量表征,亦包含必要的样品制备、准备和取样方法。其主要反映和表征构成材料的相和组织组成物、晶粒(亦包括可能存在的亚晶)、非金属夹杂物乃至某些晶体缺陷...
扫描透射电子显微镜 (STEM) 基本原理
场发射电子枪激发的电子束经过复杂的聚光系统后被汇聚成为原子尺度的电子束斑,作为高度聚焦的电子探针,在扫描线圈的控制下对样品进行逐点光栅扫描。STEM成像不同于平行电子束的TEM,其利用聚集的电子束在样品上扫描。与SEM不同之处在于探测器置于试样下方,探测器接收透射电子束流或弹性散射电子束流,经放大后在荧光屏上显示出明场像和暗场像。各种成像模式收集散射信号的接收角度不同,因此可获取同一位置的不同图像,从而反应材料的不同信息,有环形明场像(ABF)、环形暗场像(ADF)、高角环形暗场像(HAADF)。 体视显微镜的放大倍数一般在5-100倍之间, 一般有透射光,斜射光和外部环形光源等照明方式。视频显微镜规格尺寸
工业测量显微镜广泛应用于多个行业,尤其在电子行业,它是观察电路板的构造和精确测量距离的“得力”仪器。
根据不同的照明方式,观察成像也不同,因此需要根据不同的工件以及测量部位选择适合的照明方式。透射照明是采用透过轮廓光观察的方法,特别是观察测量轮廓时使用,边缘清晰易于观察。垂直反射照明是垂直照射测量工件的表面,适合用来表面性状的观察和测量。外部照明是用斜射的光来照射测量工件的表面,能够实现立体的、颜色重复性良好的观察。 PSM-1000显微镜市场价激光扫描共聚焦显微镜的扫描成像技术。
显微镜聚光镜
在照明系统中,聚光镜的作用是比较大限度地把光线聚集起来,投射到显微镜的成像系统中。基于聚光镜的功能,对聚光镜像质的要求为球差和色差,以和显微镜物镜的像差相适应。
显微镜色差
一般在设计时,只在可能条件下取得最小值即可,故聚光镜的选料很重要。聚光镜的材料宜选用低色散的光学玻璃(如K9玻璃)。由于位置色差在视场中叠加的结果是在其边缘出现彩色现象,只要使照明的区域大于标本的尺寸就能避免色差的影响。但是,对柯勒照明来说,要求聚光镜把它的光阑成像在物面上,避免色差影响以消色差聚光镜的方案替代了。消色差聚光镜的结构类似于高倍显微镜物镜,只是焦距比较长,以使光束能够通过较厚的载物玻璃(约2mm)照亮标本。
球差存在将影响聚光镜对光线的聚集能力,降低照明的效果。
扫描透射电子显微镜 (STEM) 是什么?
扫描透射电子显微镜(Scanning Transmission Electron Microscopy, STEM)由透射电子显微镜(TEM)发展而来,指透射电子显微镜中有扫描附件者,尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式,其空间分辨率可达亚埃米级,可在纳米和原子尺度上对材料微结构与精细化学组分的表征与分析。在冶金、材料、环境科学、生物科学等领域具有巨大应用潜力。 显微镜系统维护保养;
透射电镜的工作过程与光学显微镜类似。在光学显微镜中聚焦后的可见光射向样品,穿过样品的光经过物镜、目镜等光学系统聚焦后被眼睛接收。在电子显微镜中,可见光由电子枪发射出来的电子束所代替,在阳极加速电压的作用下,电子经过2、3个电磁透镜会聚为电子束,用来照明样品薄片 (电子的穿透能力很弱,因此样品必须很薄),穿过样品薄片的电子携带了样品本身的结构信息,经物镜、中间镜和投影镜所组成的成像系统的接力聚焦放大以图像或衍射谱的形式显示于荧光屏或感光材料上。显微镜使用注意事项;上海显微镜规格
显微镜的专业术语词义;视频显微镜规格尺寸
激光扫描共聚焦显微镜的另一个特点是它是一种扫描成像技术,传统的宽场照明技术是将整个样品都照亮,因此可以图像可以直接被肉眼或探测器捕捉,但是LSCM采用一束或多束聚焦光束穿过样品扫描成像,这样得到的图像被称为光学切片。现代共聚焦显微镜的一种实际的工作方式是激光发出的激发光通过二向色镜,通过一对振镜在样品x方向和y方向进行扫描,样品激发(或反射)的光通过针(zhen)孔进入PMT检测器被记录,记录下的扫描图像通过计算机重构出实际的样品图像。视频显微镜规格尺寸
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