湖南显微镜种类

显微镜的观察方法

明视场观察：垂直照射测量物表面，适用于金属、印刷电路板、浅孔的表面观察。

暗视场观察：通过对从工件发出的散射光进行观察，可完成在明视场下观察不到的划痕、尘埃、凹凸，以及胜任低反射工件的观察。

偏光观察：观察具有偏光特性的物质，适用于半导体材料、液晶、结晶、金属组织、矿物等表面观察。

微分干涉（DIC）观察：利用Nomarski棱镜将光线分为两束，形成明暗和对比度变化，可进行立体观察。适用于观察硅片的结晶缺陷、磁头研磨面的损伤检查、涂装面、金属组织、矿石表面等。 透射电镜主要应用于半导体、材料科学、生命科学等领域。湖南显微镜种类

扫描透射电子显微镜 (STEM) 是什么？

扫描透射电子显微镜（Scanning Transmission Electron Microscopy， STEM）由透射电子显微镜（TEM）发展而来，指透射电子显微镜中有扫描附件者，尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式，其空间分辨率可达亚埃米级，可在纳米和原子尺度上对材料微结构与精细化学组分的表征与分析。在冶金、材料、环境科学、生物科学等领域具有巨大应用潜力。 多倍率显微镜供应显微镜系统维护保养；

激光共聚焦显微镜的机械运动更少，特别是在光谱成像中，机械运动更稳定，可确保更快，间歇和令人信服的结果。通过将多个检测器集成在一起，可以可靠地重现用户的测量结果。并行光谱检测允许在波长模式下同时读取更多信号。另外，还有一种特殊的采集方法，可以有效提高光谱分辨率。

激光共聚焦显微镜可以显示清晰的细节和高对比度的图像，而不管表面形态和结构分析或表面轮廓如何。提高灵敏度和减少背景噪声是激光共聚焦显微镜应用的先决条件。激光共聚焦显微镜具有出色的灵敏度，良好的降噪技术和激发激光技术，可确保良好的输出功率。

扫描探针显微镜的特点：

扫描探针显微镜是除了场离子显微镜和高分辨率透射电子显微镜之后的第三种以原子尺度观察物质结构的显微镜。以扫描隧道显微镜(STM)为例，其横向分辨率为0.1~0.2nm，纵向深度分辨率则为0.01nm，这样的分辨率可以清楚地观测到分布在样品表面的单个原子或分子。同时，扫描探针显微镜还可以在空气，其他气体或液体环境下进行观察研究。扫描探针显微镜拥有原子分辨、原子搬运、纳米微加工等特点，但是由于细部各种扫描显微镜的工作原理不同，它们得到的结果所反映的样品表面信息是很不同的。扫描隧道显微镜测量的是样品表面的电子台分布信息，具有原子级别的分辨率但仍得不到样品的真结构。而原子显微镜探测的是原子之间的相互作用信息，因此可以得到样品表面原子分布的排列信息即样品的真实结构。但另一方面，原子力显微镜测不到可以和理论比较的电子态信息，因此二者各有短长。 共聚焦显微镜扫描时用的是激光光源。

扫描探针显微镜控制器通过扫描器在竖直舛由方向移动样品以使探针和样品之间的距离(或相互作用的物理量)稳定在某一固定值;同时在x-y水平平面移动样品，使探针按照扫描路径扫描样品表面。扫描探针显微镜在稳定探针与样品间距的情况下，检测系统检测探针与样品之间相互作用的相关物理量信号;在稳定相互作用物理量的情况下，则通过竖直方向礴由位移传感器检测探针与样品之问距离。图像系统则根据检测信号(或探针与样品间距)对样品表面进行成像等图像处理。照明系统通常包括光源，聚光镜及其他辅助透镜、反射镜。南昌双光路显微镜

STM和AFM的原理其实就是利用探针与样品间的距离进行测绘；湖南显微镜种类

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