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从X射线的本质和特性看,它是一种不可见光,具有光的一切特性。光是一种电磁波,且有波、粒两象性。这是光的本质,也是X射线的本质。在电磁波谱中,X射线是介于紫外线和γ射线之间的电磁波,同时具有...
调制传递函数(MTF)是描述系统再现成像物体空间频率范围的能力。理想的成像系统要求100%再现成像物体细节,但现实中肯定存在不同程度的衰减,所以MTF始终<1,它说明成像系统不能把输入的影...
铸件的缺陷中有一些是会暴露在表面的,这种比较容易甄别出来。麻烦的是内部缺陷,它可能存在也可能没有,可能很微小不足为惧也可能严重到会随时报废引起更大的连锁反应。我们现在使用的很多产品都比以前...
高压发生器的主要作用是供给X射线管阴、阳两极直流高压和灯丝加热电压。其主要由电源电路、高压电路、灯丝电路、控制电路、应用设备电路及封装以上电路的箱体等组成。电源电路主要起到将电源与高压发生...
无损探伤是在不损坏工件或原材料工作状态的前提下,对被检验部件的表面和内部质量进行检查的一种测试手段。常用无损探伤方法:1、超声波探伤:利用超声能透入金属材料的深处,并由一截面进入另一截面时...
每天我们会受到多少剂量的辐射?日常生活中我们受到的天然辐射剂量为2-4毫西弗。日常生活中,我们坐10小时飞机,相当于接受0.03毫西弗辐射。一日抽一包烟,一年下来受到的剂量在0.5-1毫希...
根据探测器的闪烁体材料,可分为碘化铯(CsI)平板和硫氧化钆(GdOS)平板两种。二者成像原理基本一致,不过因探测材料不同,成本及性能有明显差异:1)与碘化铯不同,GdOS不需要长时间蒸镀...
非晶硅、IGZO、CMOS、柔性基板、非晶硒等五种技术适合于不同的应用场景:1)非晶硅探测器,因具有出色的成本优势,短时间内仍会是平板探测器的主流技术平台。2)IGZO探测器,因采集时间短...
像素尺寸:是指成像有效区域长度与像素数之比,或表示为相邻像素的中心距离。A、分辨率:两个相邻细节间**小距离的分辨能力。B、系统分辨率:在无被检工件的情况下,当透照几何放大倍数接近于1时,...
无损探伤是在不损坏工件或原材料工作状态的前提下,对被检验部件的表面和内部质量进行检查的一种测试手段。常用无损探伤方法:1、超声波探伤:利用超声能透入金属材料的深处,并由一截面进入另一截面时...
数字化X线探测器有多重分类。按照传感器阵列形状的不同,可分为平板探测器和线阵探测器。按照光子信号的转换方式的不同,可分为积分式探测器和单光子计数式探测器。此外,光学传感面板一般都由光电转化...
随着版面密度的提高和器件的体积越来越小,在设计版面时,使ICT测试的点空间变得越来越小,而且,对复杂版材而言,如果直接从SMT生产线送到功能测试岗位,不仅会导致产品合格率降低,还会增加电路...
评价平板探测器成像质量的性能指标主要有两个:量子探测效率(DetectiveQuantumEfficiency,DQE)和空间分辨率。DQE决定了平板探测器对不同组织密度差异的分辨能力;而空间...
非晶硅、IGZO、CMOS、柔性基板、非晶硒等五种技术适合于不同的应用场景:1)非晶硅探测器,因具有出色的成本优势,短时间内仍会是平板探测器的主流技术平台。2)IGZO探测器,因采集时间短...
无损探伤是在不损坏工件或原材料工作状态的前提下,对被检验部件的表面和内部质量进行检查的一种测试手段。常用无损探伤方法:1、超声波探伤:利用超声能透入金属材料的深处,并由一截面进入另一截面时...
X射线管包含有阳极和阴极两个电极,分别用于用于接受电子轰击的靶材和发射电子的灯丝。两极均被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。X射线管供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加...
非晶硅、IGZO、CMOS、柔性基板、非晶硒等五种技术适合于不同的应用场景:1)非晶硅探测器,因具有出色的成本优势,短时间内仍会是平板探测器的主流技术平台。2)IGZO探测器,因采集时间短...
非晶硅平板探测器为间接数字化X线成像,其基本结构为表面是一层闪烁体材料(碘化铯或硫氧化钆),再下一层是以非晶体硅为材料的光电二极管电路,底层为电荷读出电路。位于探测器表面的闪烁体将透过人体后衰...
X平板探测器常用的曝光方式为内触发,通过闪烁材料把X射线转换为可见光,可见光照射光电传感器输出电流,配合相关电路***输出电平信号,探测器根据这个电平信号来控制曝光。但是光电传感器内触发灵...
平板探测器对kV、mAs(或mA、s)的响应特性是不同的。平板探测器对kV的响应特性呈阶段性:当kV小于100kV时,呈准线性响应,影像的原始灰度值随着kV的增加近乎呈线性增加;当kV大于...
平板探测器(FPD),是数字化X线摄影(DR)系统的**装备,起到X线探测作用,其性能直接决定数字化X线摄影的成像质量。在全球范围内,数字化X线摄影系统主要应用于医学诊断领域,需求占比达到75...
量子探测效率(DQE)是一种对成像系统信号和噪声从输入到输出的传输能力的表达,以百分比表示。DQE反映的是平板探测器的灵敏度、噪声、X线剂量和密度分辨率。在非晶硅平板探测器中,影响DQE的因素...
无损探伤是在不损坏工件或原材料工作状态的前提下,对被检验部件的表面和内部质量进行检查的一种测试手段。常用无损探伤方法:1、超声波探伤:利用超声能透入金属材料的深处,并由一截面进入另一截面时...
平板探测器对kV、mAs(或mA、s)的响应特性是不同的。平板探测器对kV的响应特性呈阶段性:当kV小于100kV时,呈准线性响应,影像的原始灰度值随着kV的增加近乎呈线性增加;当kV大于...
影像质量是由清晰度、对比度这两个关键要素体现出来的。清晰度主要由X射线球管焦点尺寸和数字平板探测器的空间分辨率决定,空间分辨率是由像素尺寸决定的,相同面积内像素尺寸越小,像素数量就越多,对...
随着版面密度的提高和器件的体积越来越小,在设计版面时,使ICT测试的点空间变得越来越小,而且,对复杂版材而言,如果直接从SMT生产线送到功能测试岗位,不仅会导致产品合格率降低,还会增加电路...
DR是射线数字成像检测的英文简称,工业领域也叫X射线探伤,现大部分采用数字平板。DR可以对缺陷进行定性分析,比较直观。首先,X射线对体积型缺陷比较敏感。在检测进行时,DR检测系统对工件表面...
调制传递函数(MTF)是描述系统再现成像物体空间频率范围的能力。理想的成像系统要求100%再现成像物体细节,但现实中肯定存在不同程度的衰减,所以MTF始终<1,它说明成像系统不能把输入的影...
X-RAY检测设备的应用非常***,可用于锂电池检测等电池行业、电路板行业、半导体封装、汽车行业、电路板组装行业等,可用于IGBT半导体检测、BGA芯片检测、LED灯条检测、PCB裸板检测...
数字化X线摄影主要基于二维解剖平面成像,在诸多部位的成像上受到重叠影像影响,难以对病灶进行精细的定位与评估。以胸片为例,由于胸部纵膈心影重叠以及膈下肋骨重叠,极易导致漏诊与误诊的发生。此外...
2023.11.04 手提平板探测器
2023.11.04 北京DR成像平板探测器
2023.11.03 合肥工业检测平板探测器
2023.11.03 石家庄宠物平板探测器
2023.10.26 X射线采集平板探测器技术指导
2023.10.26 济南无线平板探测器技术指导
2023.10.25 合肥无线平板探测器技术参数
2023.10.25 湖北平板探测器技术指导
2023.10.24 杭州医疗平板探测器技术参数
2023.10.24 山西便携平板探测器
2023.10.23 宁波安防平板探测器
2023.10.23 上海动态平板探测器技术指导
2023.10.22 合肥平板探测器技术参数
2023.10.22 贵州实时成像平板探测器
2023.10.21 河北数字影像平板探测器
2023.10.21 动态平板探测器技术指导
2023.10.20 贵州X射线检测平板探测器
2023.10.20 济南安防平板探测器技术参数
2023.10.19 天津X射线成像平板探测器
2023.10.19 山西便携平板探测器